電子元器件(jian)做(zuo)可靠(kao)性試驗(yan)需(xu)要(yao)做(zuo)哪些(xie)項目，以及需(xu)要(yao)哪些(xie)試驗(yan)設備，劍(jian)喬(qiao)儀(yi)器小編為您講解下(xia)！

機械完整(zheng)性試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)項目需(xu)要用到的檢測設備（沖(chong)擊(ji)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)臺、振動試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)臺，冷熱(re)沖(chong)擊(ji)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)箱，高低(di)溫(wen)濕熱(re)交變試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)箱，高溫(wen)老(lao)化(hua)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)箱等(deng)）

1、機械沖擊(ji)：確(que)定光(guang)電子元器件是(shi)否能適用在(zai)需經受中等嚴酷程(cheng)度沖擊(ji)的電子設(she)備中。沖擊(ji)可能是(shi)裝卸、運輸或現(xian)場(chang)使用過程(cheng)中突然(ran)受力或劇(ju)烈振(zhen)動所產生的。

2、變頻振(zhen)動：確定在規(gui)范頻率范圍(wei)內振(zhen)動對光電(dian)子器件各部件的(de)影響。

3、熱沖擊：確定光電(dian)子(zi)器(qi)件在(zai)遭(zao)受到溫度(du)劇變時的抵抗能力和產(chan)生的作用。

4、插(cha)(cha)拔耐久性(xing)：確定(ding)光電子器件光纖連接器的插(cha)(cha)入和拔出，光功率(lv)、損耗和反(fan)射等參數(shu)是否滿足重復性(xing)要求。

5、存(cun)儲試驗：確(que)定光(guang)電子器件能否經受高溫和低溫下(xia)運輸和儲存(cun)。

6、溫(wen)度循(xun)環：確定(ding)光(guang)電子器件承受(shou)極(ji)高溫(wen)度和極(ji)低(di)溫(wen)度的能力(li)，以及極(ji)高溫(wen)度和極(ji)低(di)溫(wen)度交替變化對(dui)光(guang)電子器件的影(ying)響(xiang)。

7、恒定濕熱：確定密(mi)(mi)封和非密(mi)(mi)封光電子器件能否(fou)同時承受(shou)規定的溫度和濕度。

8、高溫(wen)壽命：確定光電子器件(jian)高溫(wen)加速(su)老化失效機理和(he)工(gong)作(zuo)壽命。

加速(su)老化試驗需要用到的檢測(ce)設(she)備（高低溫濕熱交變試(shi)驗箱(xiang)，高溫老化試(shi)驗箱(xiang)等）

在光(guang)電(dian)子(zi)(zi)器(qi)件上施加高溫、高濕和(he)(he)一(yi)定(ding)的驅動電(dian)流進行(xing)(xing)(xing)加速(su)老化。依據試驗的結果(guo)來判定(ding)光(guang)電(dian)子(zi)(zi)器(qi)件具備功(gong)能和(he)(he)喪失功(gong)能，以及接收(shou)和(he)(he)拒收(shou)，并(bing)可對(dui)光(guang)電(dian)子(zi)(zi)器(qi)件工作(zuo)條(tiao)件進行(xing)(xing)(xing)調整和(he)(he)對(dui)可靠性進行(xing)(xing)(xing)計算。

1、高(gao)溫加速老(lao)化：加速老(lao)化過(guo)程中的最(zui)基本環境(jing)應力式高(gao)溫。在實(shi)驗(yan)過(guo)程中，應定期監測(ce)選定的參數，直到(dao)退化超(chao)過(guo)壽(shou)命終(zhong)止為止。

2、恒溫試驗(yan)：恒溫試驗(yan)與高溫運行試驗(yan)類似，應規定恒溫試驗(yan)樣品(pin)數量和(he)允許失效數。

3、變溫(wen)(wen)試驗：變化(hua)(hua)溫(wen)(wen)度的(de)高溫(wen)(wen)加速老化(hua)(hua)試驗是定期按(an)順(shun)序逐步升高溫(wen)(wen)度（例如，60℃、85℃和(he)100℃）

4、溫度循環：除了作為環境應力試驗需要對光電子器件進行溫度循環外，溫度循環還可以對管電子器件進行加速老化。溫度循環的加速老化目的一般不是為了引起特定的性能參數的退化，而是為了提供封裝在組件里的光路長期機械穩定性的附加說明。

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