溫度變化原因有(you)很多(duo)，相關標(biao)準里面(mian)都有(you)提及：GB/T 2423.22-2012 環境試驗 第(di)2部分 試驗N:溫度變化(hua)

 溫度(du)變化(hua)的現場條件

電(dian)子設(she)備(bei)和元(yuan)器件(jian)中發(fa)生溫度變化(hua)的情況很普遍。當設(she)備(bei)未通電(dian)時，其內部(bu)零件(jian)要比(bi)其外表面(mian)上的零件(jian)經(jing)受的溫度變化(hua)慢。

下列情況下，可(ke)預見快速(su)的溫度變(bian)化：

——當(dang)設備從溫暖(nuan)的室內環(huan)境轉(zhuan)移到寒冷的戶外環(huan)境，或(huo)相反情(qing)況時；

——當設備遇(yu)到淋雨(yu)或浸入冷水中而突(tu)然冷卻時；

——安裝于外部的(de)機(ji)載設備中；

——在某些(xie)運(yun)輸和貯存(cun)條件下。

通電后設備中會(hui)產生高的溫度(du)(du)梯度(du)(du)，由(you)于溫度(du)(du)變(bian)化，元器件會(hui)經受應力，例如，在大功(gong)率的電阻器旁邊，輻射(she)會(hui)引起鄰近元器件表面溫度(du)(du)升高，而其他(ta)部分仍然是冷的。

當冷(leng)卻系統(tong)通電時(shi)，人工冷(leng)卻的元器件會經受(shou)快(kuai)速(su)的溫度(du)(du)變化。在設備的制造過程中同樣可引起元器件的快(kuai)速(su)溫度(du)(du)變化。溫度(du)(du)變化的次(ci)數和(he)幅度(du)(du)以(yi)及時(shi)間間隔都(dou)是很重要的。

3.2應用

3.2.1正常環境

本試(shi)驗適用于可能會(hui)在空(kong)氣溫(wen)度發(fa)生急劇變(bian)化的地方使用的裝(zhuang)(zhuang)(zhuang)備(bei)(bei)。本試(shi)驗僅用來(lai)評價溫(wen)度急劇變(bian)化對裝(zhuang)(zhuang)(zhuang)備(bei)(bei)的外表(biao)(biao)(biao)面、安裝(zhuang)(zhuang)(zhuang)在外表(biao)(biao)(biao)面的零部件(jian)、或(huo)裝(zhuang)(zhuang)(zhuang)在靠近外表(biao)(biao)(biao)面的內(nei)部零部件(jian)的影響。典(dian)型(xing)情況如下(xia)：

A) 裝(zhuang)備在(zai)熱區(qu)域和低溫(wen)環(huan)境之間轉換；

B) 通過高性能運載工具，從(cong)地面(mian)高溫環(huan)境升(sheng)到高空（只是熱到冷）；

C) 僅用外(wai)部材料（包裝或裝備(bei)表面材料）進行試驗時，從(cong)處在高空(kong)和低溫條件(jian)下熱的飛(fei)機防護殼體內(nei)向外(wai)空(kong)投。

3.2.2安(an)全性和環境應力篩選

除3.3所(suo)述外，本試驗(yan)適用(yong)于(yu)提示裝(zhuang)備暴(bao)露(lu)在(zai)低(di)于(yu)極端(duan)溫度(du)變化速率（只(zhi)要試驗(yan)條(tiao)件下不超過裝(zhuang)備的(de)設計(ji)極限）下通常出現(xian)(xian)的(de)安全性問題和潛(qian)在(zai)的(de)缺(que)陷。本試驗(yan)雖然用(yong)作(zuo)環境(jing)應力篩(shai)選（ESS），但經適當工程處(chu)理(li)后(hou)，也可以將其作(zuo)為一(yi)個篩(shai)選試驗(yan)（使用(yong)更(geng)極端(duan)溫度(du)的(de)溫度(du)沖擊），用(yong)來揭示裝(zhuang)備暴(bao)露(lu)在(zai)低(di)于(yu)極端(duan)溫度(du)條(tiao)件下會出現(xian)(xian)的(de)潛(qian)在(zai)缺(que)陷。 

4.1.2 環境效應

溫度(du)(du)沖擊通常對靠近裝(zhuang)(zhuang)備(bei)外表(biao)(biao)面(mian)的(de)(de)部分影(ying)響更嚴重，離外表(biao)(biao)面(mian)越(yue)遠（當然，與相關材料的(de)(de)特(te)性(xing)有關），溫度(du)(du)變(bian)化越(yue)慢，影(ying)響越(yue)不(bu)明顯。運輸箱、包裝(zhuang)(zhuang)等還會(hui)減小溫度(du)(du)沖擊對封閉(bi)的(de)(de)裝(zhuang)(zhuang)備(bei)的(de)(de)影(ying)響。急劇的(de)(de)溫度(du)(du)變(bian)化可能(neng)會(hui)暫時或永久地(di)影(ying)響裝(zhuang)(zhuang)備(bei)的(de)(de)工作(zuo)。下面(mian)是裝(zhuang)(zhuang)備(bei)暴露于(yu)(yu)溫度(du)(du)沖擊環境時可能(neng)引(yin)發的(de)(de)問題示例。考慮(lv)以(yi)下典型問題，有助于(yu)(yu)確定本試驗是否適(shi)用于(yu)(yu)受試裝(zhuang)(zhuang)備(bei)。

A) 典型物理效(xiao)應有(you)：

1) 玻璃容器(qi)和光學儀器(qi)的碎裂；

2) 運(yun)動(dong)部件(jian)的卡(ka)緊或松弛；

3) 爆炸物(wu)中固態藥丸或藥柱產(chan)生(sheng)裂紋；

4) 不同(tong)材(cai)料的收(shou)縮或(huo)膨脹率、或(huo)誘發應變速率不同(tong)；

5) 零(ling)部件的變形或破裂(lie)；

6) 表面涂層開(kai)裂；

7) 密封艙泄漏(lou)；

8) 絕緣保護失效。

b)典(dian)型化學(xue)效(xiao)應有：

1）各(ge)組分分離；

2）化(hua)學試劑保護(hu)失效。

C）典型電效應有：

1）電氣和電子元器件的變化(hua)；

2）快速冷凝水(shui)或結霜引起電子或機械故障；

3）靜電過量。

溫度沖擊試驗的(de)目的(de)：工(gong)程研制(zhi)階(jie)段可用于發現產(chan)(chan)品(pin)的設計和工(gong)藝缺陷；產(chan)(chan)品(pin)定(ding)(ding)型或(huo)設計鑒定(ding)(ding)和量(liang)產(chan)(chan)階(jie)段用于驗(yan)(yan)證(zheng)產(chan)(chan)品(pin)對溫(wen)度沖(chong)擊環境的適應(ying)性，為(wei)設計定(ding)(ding)型和量(liang)產(chan)(chan)驗(yan)(yan)收決策提(ti)供依據；作為(wei)環境應(ying)力篩選應(ying)用時，目的是剔(ti)除產(chan)(chan)品(pin)的早期(qi)故(gu)障。

溫度(du)變化試驗的類(lei)型，根(gen)據IEC和國家標(biao)準，分(fen)為三(san)種：

1、 試驗(yan)Na:規(gui)定轉換時間(jian)的快速溫(wen)度變化；空氣(qi)；

2、 試驗Nb：規定(ding)變化速率的溫度(du)變化；空氣；

3、 試驗Nc：兩(liang)液槽法快速溫度變(bian)化；液體；

上(shang)面3種試驗(yan)，1、2以(yi)空氣作為介(jie)(jie)質，第3種以(yi)液體(ti)（水(shui)或其(qi)它液體(ti)）作為介(jie)(jie)質。1、2的轉(zhuan)換時間較長，3的轉(zhuan)換時間較短。

標準：

IEC 60068-2-14：2009《環(huan)境試(shi)(shi)驗(yan)第2~14部(bu)分：試(shi)(shi)驗(yan)方法試(shi)(shi)驗(yan)N：溫度變化》

GB/T 2423.22-2012《環境試驗(yan)(yan)第2部分：試驗(yan)(yan)方法試驗(yan)(yan)N：溫度變化》

MIL-STD-810F  方法503.4：溫度沖擊(ji)試驗

GJB  150.5A-2009 《軍用裝備實驗室(shi)環境試驗方(fang)法(fa)第(di)5部分：溫度沖擊試驗》

GJB 150.5-1986

MIL-STD-202G 方法107G：熱沖擊試驗

GJB 360B-2009 《電子及(ji)電氣(qi)元件試驗(yan)方(fang)法(fa)(fa)》中(zhong)的方(fang)法(fa)(fa)107溫度沖擊(ji)試驗(yan)。

MIL-STD-883, Method 1010, Temperature Cycling

JESD22-A104D, Temperature Cycling

JESD22-A106B

JIS C 680068-2-14:2011（替代JIS C0025:1988）

JASO D 001

EIA The air-to-air thermal shock test is JESD22-A104D "Temperature Cycling"

EIA The liquid-to-liquid thermal shock test is JESD22-A106B "Thermal Shock"

EIA-364-32E-2008

GB897.4-2008/IEC60086-4：2007

GJB548B-2005方法(fa)1011.1

GJB128A-97方法1056

ISO 16750-4:2010 Road vehicles — Environmental conditions and testing for electrical and electronic equipment — Part 4: Climatic loads

GMW3172_AUG2008 電氣/電子元(yuan)件通用規范---環境/耐久性 9.4.2

等標準(zhun)。

試驗參數(shu)包括下列(lie)各(ge)項：

——試驗室環境溫(wen)度；

——高溫；

——低(di)溫；

——暴露持(chi)續(xu)時間；

——轉(zhuan)換時間或變化(hua)速率；

——試驗循環數。

穩(wen)定時間

GJB 150.5A-2009 4.3.7 溫度穩定

試件(jian)溫度穩定（在轉換(huan)之前）的時間至(zhi)少應保證試件(jian)整個外部的溫度均勻一致(zhi)。

GB/T 2423.22-2012 環境(jing)試(shi)(shi)驗 第2部(bu)分 試(shi)(shi)驗N:溫(wen)度變化

7.2.1 部分最后一句：

在放入試驗樣品后，空氣溫度應在暴露持續時間的10%以內達到規(gui)定的容差范圍(wei)。

EIA-364-32E-2008 4.3 Specimen mass determination