[恒溫恒濕試驗箱]分析導致恒溫(wen)(wen)恒濕試驗箱無法快速(su)降溫(wen)(wen)的(de)原(yuan)因

　　在(zai)使用恒(heng)(heng)溫(wen)(wen)恒(heng)(heng)濕試驗箱(xiang)進(jin)行(xing)溫(wen)(wen)度(du)實(shi)驗的(de)(de)時(shi)候(hou)，有(you)(you)客戶反映恒(heng)(heng)溫(wen)(wen)恒(heng)(heng)濕實(shi)驗箱(xiang)無(wu)法正常(chang)的(de)(de)進(jin)行(xing)降溫(wen)(wen)，而在(zai)咱(zan)們的(de)(de)測驗中發現，這(zhe)些都是由于錯誤的(de)(de)操作(zuo)和沒有(you)(you)養護致使的(de)(de)，這(zhe)樣的(de)(de)錯誤操作(zuo)，就會大大損耗恒(heng)(heng)溫(wen)(wen)恒(heng)(heng)濕箱(xiang)的(de)(de)配(pei)件壽命，下降設備的(de)(de)數據準確性。依據咱(zan)們查詢(xun)，如今致使這(zhe)個毛(mao)病的(de)(de)主(zhu)要原(yuan)因主(zhu)要有(you)(you)以下幾個方面。

　　1.由于溫(wen)濕度(du)堅持(chi)不住或低溫(wen)難以到達，調(diao)查制(zhi)冷壓(ya)縮(suo)機(ji)在設備運(yun)轉過程中(zhong)(zhong)是不是能(neng)(neng)夠繼續(xu)發動，制(zhi)冷壓(ya)縮(suo)機(ji)在設備運(yun)轉過程中(zhong)(zhong)都(dou)能(neng)(neng)夠繼續(xu)發動，闡(chan)明各壓(ya)縮(suo)機(ji)的電器和線路正(zheng)常(chang)，對應控(kong)制(zhi)電子(zi)元件(jian)系統方(fang)面(mian)也沒有(you)疑問(wen)。

　　2.用手摸主機組(zu)R404壓縮機的(de)排氣(qi)和吸氣(qi)管(guan)路(注(zhu)意燙壞或凍傷，先輕輕觸碰打聽)，若(ruo)發現壓縮機排氣(qi)管(guan)路的(de)溫度不高，回氣(qi)管(guan)路的(de)溫度也不行(xing)冷(未結霜)，這也闡明制(zhi)冷機組(zu)制(zhi)冷劑缺(que)少。

　　3.在(zai)使用(yong)過程中，實驗箱的門未(wei)能正常封閉;

　　4.環(huan)境溫(wen)度(du)過(guo)高：房間(jian)(jian)溫(wen)度(du)過(guo)高，就要想辦法使環(huan)境溫(wen)度(du)下降，如在房間(jian)(jian)內裝置(zhi)空調或(huo)打開下面擋板用風扇吹，然后到達降溫(wen)的效果(guo)。

　　5.風(feng)機(ji)(ji)不轉：調查風(feng)機(ji)(ji)在實驗箱運轉過程中(zhong)是不是能(neng)夠(gou)發動，如風(feng)機(ji)(ji)在實驗箱運轉過程中(zhong)都(dou)能(neng)夠(gou)發動，闡明(ming)風(feng)機(ji)(ji)正常。

　　6.冷(leng)凝器塵埃(ai)太(tai)多，整理冷(leng)凝器的灰(hui)吹潔凈;

　　7.工件帶(dai)點測驗，致使發熱量過大(da)，形成箱內溫(wen)度降溫(wen)緩慢無法(fa)到達外表設定置或不(bu)制冷;

　　8.可能是實驗箱內地冷(leng)凝劑過少，致(zhi)使不能徹底制冷(leng)。

　　9.制(zhi)(zhi)冷系(xi)統(tong)：查看制(zhi)(zhi)冷系(xi)統(tong)，首要查看兩(liang)組(zu)(zu)制(zhi)(zhi)冷機組(zu)(zu)的低溫(wen)(R23)級壓(ya)(ya)縮(suo)機的排(pai)氣和吸氣壓(ya)(ya)力都較正常值偏低，并且吸氣壓(ya)(ya)力呈抽空狀況，闡(chan)明(ming)主制(zhi)(zhi)冷機組(zu)(zu)的制(zhi)(zhi)冷劑(ji)(ji)量缺乏。用手摸主機組(zu)(zu)R2310.壓(ya)(ya)縮(suo)機的排(pai)氣和吸氣管路，發現(xian)排(pai)氣管路的溫(wen)度不高，吸氣管路的溫(wen)度也不低(未(wei)結霜)，這(zhe)也闡(chan)明(ming)晰主機組(zu)(zu)的R23制(zhi)(zhi)冷劑(ji)(ji)缺乏。

　　10.負載(zai)大：查看(kan)實驗工(gong)件(jian)是(shi)不(bu)是(shi)是(shi)帶(dai)電(dian)測驗，并測出帶(dai)電(dian)測驗時工(gong)件(jian)的(de)發熱(re)量，如發熱(re)量在300W以內關于(yu)實驗箱沒有影響，可(ke)是(shi)發熱(re)量過大會(hui)使(shi)箱內溫度(du)降溫緩慢無法到達外表設定置(zhi)或不(bu)制冷(leng)。

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