隨著(zhu)科技的(de)(de)發展(zhan)，手(shou)(shou)(shou)機(ji)(ji)(ji)更新(xin)換代的(de)(de)非常快，手(shou)(shou)(shou)機(ji)(ji)(ji)做為人們日常生活不(bu)可(ke)缺(que)少的(de)(de)通信工具，在向(xiang)市場上大量出(chu)售前，需要(yao)做整機(ji)(ji)(ji)可(ke)靠性(xing)測(ce)試，以(yi)全(quan)方位保障(zhang)手(shou)(shou)(shou)機(ji)(ji)(ji)的(de)(de)品質與人們的(de)(de)使用安全(quan)。那么手(shou)(shou)(shou)機(ji)(ji)(ji)整機(ji)(ji)(ji)可(ke)靠性(xing)測(ce)試需要(yao)做哪些項(xiang)目呢？下面劍喬儀器小編(bian)為大家仔細講(jiang)解下手(shou)(shou)(shou)機(ji)(ji)(ji)整機(ji)(ji)(ji)可(ke)靠性(xing)測(ce)試的(de)(de)試驗項(xiang)目以(yi)及相關(guan)測(ce)試標(biao)準。

一(yi)：手(shou)機整機環境可靠性測試

由于手(shou)機(ji)是(shi)移動設備，這就決定了它隨(sui)時(shi)會面臨冬天的(de)嚴(yan)寒與靜電，夏季的(de)酷暑與潮濕，而高(gao)低溫環境測試(shi)(shi)就是(shi)為(wei)了避(bi)免手(shou)機(ji)產生嚴(yan)重失(shi)效現象(xiang)而進行的(de)測試(shi)(shi)。最為(wei)容易(yi)想象(xiang)的(de)就是(shi)高(gao)低溫環境測試(shi)(shi)，它會給予手(shou)機(ji)一(yi)個初始(shi)測試(shi)(shi)狀態如(ru)待(dai)機(ji)、關(guan)機(ji)或者充電，定時(shi)檢查手(shou)機(ji)在測試(shi)(shi)中(zhong)的(de)狀況。

1）高低溫環境測(ce)試

高低(di)溫(wen)(wen)(wen)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)是高溫(wen)(wen)(wen)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)和低(di)溫(wen)(wen)(wen)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)的(de)的(de)簡(jian)稱，試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)目的(de)是評價高低(di)溫(wen)(wen)(wen)條件(jian)(jian)對裝(zhuang)(zhuang)備在存(cun)儲(chu)和工作期間的(de)性(xing)能(neng)影響。高低(di)溫(wen)(wen)(wen)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)的(de)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)條件(jian)(jian)、試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)實施、試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)步驟在GJB 150.3A一2009《軍(jun)用(yong)裝(zhuang)(zhuang)備試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)室環(huan)(huan)境(jing)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)方(fang)法高溫(wen)(wen)(wen)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)》與GJB 150.4A—2009《軍(jun)用(yong)裝(zhuang)(zhuang)備試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)室環(huan)(huan)境(jing)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)方(fang)法低(di)溫(wen)(wen)(wen)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)》中都有詳細的(de)規定。

2）鹽(yan)霧測試

鹽(yan)霧箱條件(jian)(jian)： 5+1％NaCl溶液， 6,5<pH<7.2 ,T=+35+2°C,濕熱箱條件(jian)(jian)：＋40+2°，93+3％RH，持續時間48H。

3）ESD測試

手機在(zai)接充(chong)電(dian)器和不接充(chong)電(dian)器的(de)(de)(de)情況下(xia)，分別測試(shi)手機在(zai)常用使用狀(zhuang)(zhuang)態下(xia)的(de)(de)(de)ESD 性能(neng)，待機和通(tong)話狀(zhuang)(zhuang)態是(shi)必須(xu)要(yao)測試(shi)的(de)(de)(de)狀(zhuang)(zhuang)態。 

接觸(chu)放電(dian)(dian)為(wei)±6KV,對(dui)裸露的金屬(shu)件（如導電(dian)(dian)裝飾圈(quan)、裝飾牌不(bu)同(tong)的位置）、水(shui)平耦(ou)合(he)板、垂(chui)直(zhi)耦(ou)合(he)板連(lian)續(xu)放電(dian)(dian)各 10次(ci)后對(dui)地(di)放電(dian)(dian),要求：LCD 顯示和通話(hua)狀況應良好，應無數(shu)據丟失和功能損壞等；接觸(chu)放電(dian)(dian)每(mei)點每(mei)個測試電(dian)(dian)壓連(lian)續(xu)放電(dian)(dian) 10次(ci)(加(jia)嚴測試±20 次(ci))。 

空(kong)氣放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)±10K，對翻蓋底殼/面殼、大小LCD四周、接縫(feng)、受話(hua)器(qi)、免提接口、I/O口、主機按鍵及主機底殼等處進行放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)，被選(xuan)點每(mei)點每(mei)個測(ce)試電(dian)(dian)(dian)壓放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)10 次(加嚴測(ce)試±20 次)，每(mei)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)一次需對地放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)，要求LCD顯(xian)示和(he)通話(hua)狀況應(ying)良(liang)好，應(ying)無數據丟失(shi)和(he)功能損壞。 

完成后作(zuo)好(hao)記錄(lu)。所需手機數為2 部(bu)。 

外置天(tian)線 ESD 測(ce)試要求(qiu)：天(tian)線電鍍裝(zhuang)飾要求(qiu)測(ce)試接觸(chu)放(fang)電±8KV，空氣放(fang)電±15KV，不(bu)允許出現(xian)破壞性問(wen)(wen)題（出現(xian)重啟(qi)或重裝(zhuang)電池不(bu)可恢復的問(wen)(wen)題） 

參考標準: 

GB/T 17626.2 1998 idt IEC-61000-4-2  1995 電磁兼容(rong)試(shi)(shi)驗和(he)測量技術靜電放電抗擾度試(shi)(shi)驗  

YD/T 1539-2006移(yi)動通信手持機可靠性技術要求和測試方法。

4）極限溫度充電(dian)測試

5）溫升測試

二、手機整機機械類可靠性測試

這(zhe)類(lei)測試(shi)大多數屬于破壞性的測試(shi)，我(wo)們可以理解成測試(shi)產(chan)品(pin)的一個極限狀態。簡單的說就(jiu)是看(kan)看(kan)產(chan)品(pin)的可靠度(du)，比如10厘米(mi)的微跌測試(shi)，對手機的正面和反面各微跌200次，手機LCD不能出現白點或者(zhe)白斑，TP滑動功能全領(ling)域有效，如果(guo)測試(shi)通過我(wo)們認(ren)為該產(chan)品(pin)在這(zhe)方面具備(bei)可靠度(du)。

1）跌落(luo)測試

分定向(xiang)跌落(luo)、自由跌落(luo)、重復跌落(luo)、滾筒跌落(luo)四種跌落(luo)方式。

試(shi)(shi)驗樣(yang)機插SIM 卡，并裝配電池，手(shou)機處于正常工作狀態。將樣(yang)品放(fang)置在垂直跌落試(shi)(shi)驗儀上，將高度調到 1.0m ，進(jin)(jin)行(xing)垂直跌落測(ce)(ce)試(shi)(shi)。每個面各測(ce)(ce) 2 次，共跌落12 次。跌落測(ce)(ce)試(shi)(shi)后，首先對樣(yang)品進(jin)(jin)行(xing)外觀、功能，結構(gou)檢(jian)測(ce)(ce)，記錄測(ce)(ce)試(shi)(shi)狀態后，再進(jin)(jin)行(xing)拆機檢(jian)測(ce)(ce)。

試(shi)驗樣機(ji)插SIM 卡，并裝配電池，手機(ji)處(chu)于正常工作(zuo)狀態。 將(jiang)樣品放置在(zai) 0.5m 的(de)滾筒(tong)跌落試(shi)驗機(ji)中，進(jin)行跌落測試(shi)，每 50 次對(dui)手機(ji)的(de)外觀，功能，結構做檢測，累計跌落300 次循環(huan)。 測試(shi)完成后，對(dui)手機(ji)進(jin)行功能，結構，裝配檢測（要求必須(xu)拆(chai)機(ji)檢查）。

2）軟(ruan)壓測試

將手機(ji)正面朝(chao)上，放置在支撐部件的中(zhong)心位置上，樣(yang)品(pin)處于開機(ji)狀態并鎖住鍵盤(pan)。彈(dan)性擠壓頭以 25kg 的力(li)、每分鐘 15～30 次的頻率(lv)擠壓樣(yang)品(pin)中(zhong)間部位1000次，分別在400、600、800、1000 次進行(xing)(xing)外(wai)(wai)觀檢查和話音通信檢查，外(wai)(wai)觀、功能應(ying)正常(chang)(chang)，話音通信應(ying)能正常(chang)(chang)進行(xing)(xing)。測(ce)試結束后進行(xing)(xing)功能、外(wai)(wai)觀及裝配(pei)檢測(ce)應(ying)無異(yi)常(chang)(chang)。

3）硬壓測試

4）小球沖擊

5）水波紋測試

6）USB/耳機接口推力(li)測試

7）正弦振(zhen)動測試(shi)

    振動頻(pin)率: 10 ~ 500Hz ASD(加速度(du)頻(pin)譜(pu)密度(du))：0.96m2/S3 持續時間: 每方向1小時(x,y,z三個方向)。 試(shi)驗過程(cheng)中檢查(cha)(cha)手(shou)機有(you)無掉卡、關機等不良現象，測試(shi)結束后功(gong)能檢查(cha)(cha)應無異常。

8）沙(sha)塵實驗

9）包裝(zhuang)振動

三、手機整機壽命(ming)類測試(shi)

    實際研制(zhi)過程(cheng)中，壽(shou)命(ming)測(ce)試(shi)一般為加速(su)壽(shou)命(ming)測(ce)試(shi)，以便縮短測(ce)試(shi)周期，降低生產(chan)(chan)成本，讓產(chan)(chan)品在短時(shi)間內盡可(ke)能暴露產(chan)(chan)品的(de)缺陷(xian)，評(ping)估產(chan)(chan)品的(de)穩定(ding)性(xing)。

1）SIM/T卡/內存卡接入和拔出測(ce)試(shi)

    插(cha)入SIM 卡再取(qu)出，累計1000 次(ci)。每(mei)插(cha)拔(ba)50 次(ci)開機(ji)檢(jian)查一次(ci)，手機(ji)不能有不識卡現象(xiang)，測試完畢手機(ji)功能應正常。

    插入內存卡(ka)(ka)再(zai)取出，累計 1000 次。不支持(chi)熱(re)插拔(ba)的(de)(de)機(ji)(ji)型，每插拔(ba) 100 次開(kai)機(ji)(ji)檢查一(yi)次，支持(chi)熱(re)插拔(ba)的(de)(de)機(ji)(ji)型必須(xu)在開(kai)機(ji)(ji)狀態下(xia)測試(shi)，每插拔(ba) 100 次檢查一(yi)次，要求測試(shi)后存儲卡(ka)(ka)結構正常（不能破(po)裂），手機(ji)(ji)無不識卡(ka)(ka)問題(ti)，內存卡(ka)(ka)中的(de)(de)內容不可丟失。

2）USBUSB/耳(er)機接口接入和拔出測試

    將(jiang)耳(er)機(ji)(ji)垂(chui)(chui)直插入耳(er)機(ji)(ji)孔后，再垂(chui)(chui)直拔出，如(ru)此反復，累計(ji) 3000 次。功能應(ying)正常(chang)。

插入(ru)數據(ju)線再拔下，累計3000次(ci)。每插拔100次(ci)開機檢查一次(ci)，手機功(gong)能應正常。

3）按鍵測試(shi)

    以 40~60 次(ci)/分鐘的速度，不(bu)小(xiao)于 10N 的力度均勻按(an)鍵，Dome：15 萬次(ci)以上(shang)；Switch：10 萬次(ci)；多維(wei)導航鍵：6 萬次(ci)。每2萬次(ci)檢查(cha)1次(ci)。Slide：1.5 萬次(ci)；試驗(yan)后功(gong)能應正常。

4）觸摸屏(ping)點擊測試

    將手(shou)機(ji)固(gu)定(ding)在(zai)點擊測試儀(yi)器上(shang)， 用固(gu)定(ding)在(zai)尖端的隨機(ji)手(shou)寫(xie)筆，加載 150g 的力，對觸摸屏(ping)點擊25 萬(wan)次， 每5 萬(wan)次對屏(ping)幕進行檢查并清潔；手(shou)機(ji)處于(yu)待機(ji)狀態；測試完畢后，觸摸屏(ping)表面無損傷，功能(neng)正常。點擊速(su)率：約1 次/秒

5）觸摸屏(ping)劃線測試(shi)

    將(jiang)手機固(gu)定在(zai)劃(hua)(hua)線(xian)測試儀器上， 用手機自帶的手寫筆沿觸(chu)摸(mo)屏(ping)的對(dui)(dui)角(jiao)線(xian)進行劃(hua)(hua)線(xian)測試，劃(hua)(hua)線(xian)壓力為150g 力， 測試次(ci)(ci)數(shu)10 萬次(ci)(ci) （反復來回(hui)為 2 次(ci)(ci)），每1 萬次(ci)(ci)對(dui)(dui)觸(chu)摸(mo)屏(ping)功能、結構和外觀(guan)進行檢測，并對(dui)(dui)觸(chu)摸(mo)屏(ping)進行清潔。測試結束(shu)后，觸(chu)摸(mo)屏(ping)功能應(ying)正常，外觀(guan)無損(sun)傷（劃(hua)(hua)痕）。 （劃(hua)(hua)線(xian)速度：約30mm/秒）

6）聽筒壽命測試

  &nbsp; 使用(yong)0.035W， PINK  20Hz-20KHz的120小時內無異常現(xian)象。

7）馬(ma)達測(ce)試(shi)

8）揚(yang)聲(sheng)器測(ce)試

9）受話器測(ce)試

四(si)、手機整機表(biao)面處理類測(ce)試

1）紙帶/羊(yang)毛氈耐磨測試(shi)

&nbsp;   使用多功能耐磨儀器，羊毛氈(zhan)，施加 1000g 的力，在產品表(biao)面（有表(biao)面處理工藝）以 40 次/分鐘～60 次/分鐘的速度，以 30mm 左右的行程，在樣本表(biao)面來回磨擦(ca)，測試 2000 次(1000 個循環)后 觀(guan)察外觀(guan)。

2）硬(ying)度測試

    觸摸屏硬度測試，用三菱牌 2H 鉛筆劃(hua)產品表面(mian)，在 45°的(de)角度，以(yi) 500g的(de)力(li)度在被測殼表面(mian)劃(hua)兩筆劃(hua)刻后用橡皮擦試后檢(jian)查應無(wu)明(ming)顯劃(hua)痕。

3）噴涂百格測(ce)試

4）耐(nai)醇性測試(shi)

5）化妝品(pin)測試

6）耐壓測試(shi)

7）振動耐磨測試。

五、手機整機三防測(ce)試

    區(qu)別(bie)于(yu)傳統的三(san)防(fang)(fang)“防(fang)(fang)霉菌、防(fang)(fang)潮濕、防(fang)(fang)鹽霧”，手機整機的三(san)防(fang)(fang)測試主要為防(fang)(fang)塵、防(fang)(fang)水、防(fang)(fang)跌落震動(dong)測試。

    如防塵(chen)可(ke)靠性測(ce)試，將(jiang)手(shou)機放置(zhi)在(zai)粉(fen)塵(chen)試驗(yan)箱(xiang)(xiang)內， 樣品體積綜合(he)不(bu)(bu)得超過(guo)試驗(yan)箱(xiang)(xiang)有效空間的 1/3，底面積不(bu)(bu)得超過(guo)有效水平(ping)在(zai)積的 1/2；與實(shi)驗(yan)箱(xiang)(xiang)內壁(bi)距(ju)離應不(bu)(bu)小于(yu) 100mm。啟動粉(fen)塵(chen)試驗(yan)箱(xiang)(xiang)，使氣流(liu)能夠將(jiang)灰塵(chen)均勻緩(huan)慢(man)地沉(chen)降(jiang)在(zai)試驗(yan)樣品上，最大值不(bu)(bu)得超過(guo) 2m/s。測(ce)試時(shi)間到后，將(jiang)手(shou)機在(zai)粉(fen)塵(chen)箱(xiang)(xiang)內靜置(zhi) 2H，進行功能、外觀(guan)及裝配檢(jian)測(ce)。

六、 國(guo)內手(shou)機可靠性測試方面(mian)的主要(yao)標準

1）GB/T 15844.2-1995 移動通信(xin)調頻無線電話機環境(jing)要求(qiu)和(he)試驗方法。 

2）YD/T1215  900/1800MHz TDMA數(shu)字(zi)蜂(feng)窩移動(dong)一動(dong)通(tong)信網(wang)通(tong)用分組無限業務設備測試方法：移動(dong)臺。

3）GB/T 15844.3-1995 移動(dong)通(tong)信調頻(pin)無(wu)線電(dian)話機可靠性(xing)要(yao)求和試驗(yan)方法。 

4）YD/T 965-1998  電信終(zhong)端(duan)設備的安全要(yao)求和試(shi)驗(yan)方法。 

5）YD 1032-2000 900/1800MHz TDMA 數字900/1800MHz TDMA 數字蜂窩移動通信系統(tong)電磁兼容性限值和測(ce)量方(fang)法  第一(yi)部分(fen)：移動臺(tai)及其輔(fu)助設備。

對手(shou)機(ji)整機(ji)進(jin)(jin)行可(ke)靠性測(ce)試(shi)，需要(yao)對測(ce)試(shi)過程的(de)失(shi)(shi)效(xiao)現象(xiang)(xiang)進(jin)(jin)行分析，因此在(zai)測(ce)試(shi)過程中應把手(shou)機(ji)的(de)失(shi)(shi)效(xiao)現象(xiang)(xiang)準確詳(xiang)(xiang)細(xi)的(de)描述出來十分重要(yao)，從而(er)才能便于后續分析、改進(jin)(jin)設計，為提高手(shou)機(ji)可(ke)靠性、耐久性。更(geng)多詳(xiang)(xiang)細(xi)資料歡(huan)迎咨(zi)詢廣東劍喬【劍喬儀器】廠家 官網：violinmp3.com