高低溫低氣壓試驗箱是(shi)測試低(di)氣壓(ya)試驗的主要(yao)設備，它可以在高溫(wen)和(he)低(di)溫(wen)和(he)低(di)壓(ya)的單一或(huo)同(tong)時作用下執行(xing)存(cun)儲(chu)和(he)運(yun)輸(shu)可靠性測試，并且可以同(tong)時測試試件的電氣性能(neng)參數。

而電子元器件使用高低溫低氣壓試驗箱做試驗的目的及參考試驗標準如下：

一、測試(shi)(shi)目的(de)：通用低壓(ya)測試(shi)(shi)有三種(zhong)測試(shi)(shi)目的(de)：

1）確定產品在常(chang)溫下是否能(neng)承受低壓(ya)環境，并(bing)在低壓(ya)環境下能(neng)正(zheng)常(chang)工作。并(bing)且能(neng)夠(gou)承受氣壓(ya)的(de)快速變(bian)化。

2）確(que)(que)定(ding)(ding)組(zu)件和(he)材料在(zai)室(shi)溫下(xia)在(zai)低壓下(xia)承受(shou)電擊穿的(de)能力，確(que)(que)定(ding)(ding)密封組(zu)件在(zai)不損(sun)壞的(de)情(qing)況(kuang)下(xia)承受(shou)壓差(cha)的(de)能力，并確(que)(que)定(ding)(ding)低壓對組(zu)件工作特性的(de)影(ying)響。

3）確保當組件(jian)和材料(liao)的氣壓降(jiang)低(di)時，由于空氣和其他絕(jue)緣材料(liao)的絕(jue)緣強度而降(jiang)低(di)了(le)抗(kang)電擊穿能力

 二、參考試驗標準：

1） G J B 150．2A一(yi)2009《軍用(yong)裝備(bei)實驗室環境試(shi)驗方法第(di)二(er)部(bu)分(fen)低氣壓( 高(gao)度(du)） 試(shi)驗》;

2） G J B 360B一(yi)2009《電(dian)子及(ji)電(dian)氣元件試(shi)驗方法(fa)方法(fa)105低氣壓試(shi)驗》( 等效(xiao)美(mei)軍標M IL—STD一(yi)202F） ;

3） G J B 548B一2005《微電子器件(jian)試驗(yan)方法和程(cheng)序方法1001低(di)氣(qi)壓( 高空作業(ye)） 》標M IL—STD一883D）; 

4） G B2421—2008《電(dian)工電(dian)子產品基本環境(jing)試驗總則》;

5）G B／T 2423，21—2008《電(dian)工電(dian)子產品基本(ben)環(huan)境試(shi)驗規程(cheng)試(shi)驗M 低氣壓試(shi)驗方法》；

6） G B／T 2423．25—2008《電工電子產品基本環境試驗規(gui)程試驗Z／AM 低(di)溫／低(di)氣壓綜(zong)合試驗方法;

7）G B／T 2423、26—2008《電(dian)工(gong)電(dian)子產品基本環境試(shi)驗規(gui)程試(shi)驗Z／BM 高溫(wen)／低氣(qi)壓綜合試(shi)驗方法》；

8） G B2423．27—2005《電(dian)工電(dian)子產(chan)品基本環境試(shi)驗(yan)規(gui)程試(shi)驗(yan)Z／AM D 高溫／低氣(qi)壓綜(zong)合試(shi)驗(yan)方(fang)法》；

9） G B／T 2424．15—2008《電(dian)工電(dian)子產(chan)品基本環境試(shi)驗規程(cheng)》。

10） GB 11159-1989 低氣(qi)壓試驗箱技術條件(jian) 標準(zhun)

三、試驗條件：

試(shi)驗(yan)壓力

GJB 548列出(chu)了總共A、 B、 C、 D、 E、 F、 G7在不同條(tiao)件(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)下的(de)不同大氣(qi)壓值(zhi)，并且給定的(de)測(ce)試條(tiao)件(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)具有一(yi)定的(de)規(gui)律(lv)性，隨著飛行高(gao)度從(cong)(cong)(cong)低(di)到(dao)(dao)(dao)高(gao)，壓力(li)(li)價值(zhi)從(cong)(cong)(cong)大到(dao)(dao)(dao)小變(bian)化； GJB 360給出(chu)A、 B、 C、 D、 E、 F、 G、 H、 I、 J 10不同條(tiao)件(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)下的(de)海(hai)(hai)拔(ba)壓力(li)(li)值(zhi)，以及所列的(de)海(hai)(hai)拔(ba)-氣(qi)壓計從(cong)(cong)(cong)A到(dao)(dao)(dao)E的(de)測(ce)試條(tiao)件(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)具有一(yi)定的(de)規(gui)律(lv)性。隨著飛行高(gao)度從(cong)(cong)(cong)低(di)到(dao)(dao)(dao)高(gao)變(bian)化，氣(qi)壓值(zhi)從(cong)(cong)(cong)大到(dao)(dao)(dao)小變(bian)化，但是從(cong)(cong)(cong)測(ce)試條(tiao)件(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)F到(dao)(dao)(dao)測(ce)試條(tiao)件(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)J沒有規(gui)律(lv)性。與GJB 548中(zhong)列出(chu)的(de)測(ce)試條(tiao)件(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)相比，GJB 360測(ce)試條(tiao)件(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)從(cong)(cong)(cong)條(tiao)件(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)H為(wei)測(ce)試條(tiao)件(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)J，相應的(de)氣(qi)壓和海(hai)(hai)拔(ba)條(tiao)件(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)為(wei)：H：3000m 70kPa； J：18 000m，7、 6kPa； K：25 000m，2、 5 kPa。

2）測(ce)試時間GJB 360B-2009規定：如果沒有其他要求(qiu)，可以從以下值中選擇低壓下的測(ce)試樣品測(ce)試時間：5min、 30min、 1h、 2h、 4h和16h。

3）升降壓率(lv)通常(chang)不超過10kPa/min三(san)個(ge)、

四、問題與措施

1、問題

低壓測試期間組件可能暴露的缺陷包括(kuo)：絕緣（電(dian)離、放電(dian)和(he)介電(dian)損耗(hao)）和(he)結點(dian)熱缺陷。

2、措施

1在低壓條(tiao)件下，很容易產生排放。有必(bi)要加強絕(jue)(jue)緣電(dian)極和表面(mian)的絕(jue)(jue)緣。灌(guan)封(feng)過程(cheng)是一(yi)種有效(xiao)的解決方案。

2）組件(jian)的(de)熱設計必須(xu)充(chong)分考慮低壓引起的(de)溫度上升。